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        上海電科智能裝備科技有限公司

        CDM模式靜電測試系統 CDM-I6K

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        過(guò)去大家對人體模型(HBM)和機器模型(MM)相當重視,而忽視了帶電器件模型(CDM)對器件造成的損壞。近年的研究證明,在自動(dòng)化程度越來(lái)越高,器件本身帶電所造成的損壞遠多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內倒出帶電,在接觸或處理器件如由機器手或人取出時(shí)會(huì )時(shí)器件會(huì )發(fā)生放電,在流水線(xiàn)上常見(jiàn)的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無(wú)論在試驗原理方法和程序上都有很大的不同,HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞,而CDM是器件對其它物體放電所造成的損壞,從模型的基本理論、測試原理,試驗方法,測試設備都完全不同于HBM和MM。
        CDM-I6K靜電試驗測試系統是按照標準設計的專(zhuān)門(mén)測試CDM的模擬器,具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩定性好(時(shí)漂小于0.1%)、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。
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        產(chǎn)品詳情

        應用領(lǐng)域

        芯片、IC電路、元器件等……

        產(chǎn)品標準

        ESD STM5.3.1—199

        技術(shù)特點(diǎn)

        本系統用于CDM靜電測試試驗。主要由直流高壓源、測試主機、靜電測試探針(含衰減器)三部分構成,可實(shí)現帶電器件模型(CDM)靜電感應帶電、靜電放電及放電信號采集測試功能。

        技術(shù)指標


        輸出電壓

        0.01~6kV ±5%

        電壓極性

        正、負或者正負交替。

        放電間隔

        20~999s

        放電次數

        1~999

        使用環(huán)境

        溫度:10℃~35℃ 相對濕度:30%~60%

        電源

        單相AC85~265V,50/60Hz

        外形尺寸(mm)

        主機350×260×160(D×W×H)

        重量

        約7.5kg



        CDM模式靜電測試系統 CDM-I6K
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        CDM-I6K靜電試驗測試系統是按照標準設計的專(zhuān)門(mén)測試CDM的模擬器,具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩定性好(時(shí)漂小于0.1%)、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。
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        本系統用于CDM靜電測試試驗。主要由直流高壓源、測試主機、靜電測試探針(含衰減器)三部分構成,可實(shí)現帶電器件模型(CDM)靜電感應帶電、靜電放電及放電信號采集測試功能。

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        輸出電壓

        0.01~6kV ±5%

        電壓極性

        正、負或者正負交替。

        放電間隔

        20~999s

        放電次數

        1~999

        使用環(huán)境

        溫度:10℃~35℃ 相對濕度:30%~60%

        電源

        單相AC85~265V,50/60Hz

        外形尺寸(mm)

        主機350×260×160(D×W×H)

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